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致茂Chroma 3650-CX SoC 測試系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介

致茂Chroma 3650-CX SoC 測試系統(tǒng)
50/100MHz測試工作頻率
256個(gè) I/O 通道(I/O Channel)
16/32 MW vector 記憶體
16/32 MW pattern instruction 記憶體
Multi-site 測試可達(dá) 32 sites
16個(gè) DPS 通道
8個(gè) PMU 通道

產(chǎn)品型號:3650-CX
更新時(shí)間:2023-12-25
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:1270
詳細(xì)介紹在線留言
品牌Chroma/致茂產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域電子

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致茂Chroma 3650-CX SoC 測試系統(tǒng)

主要特色:

  • 50/100MHz測試工作頻率
  • 256個(gè) I/O 通道(I/O Channel)
  • 16/32 MW vector 記憶體
  • 16/32 MW pattern instruction 記憶體
  • Multi-site 測試可達(dá) 32 sites
  • 16個(gè) DPS 通道
  • 8個(gè) PMU 通道
  • Per-Pin 時(shí)序頻率測試單位
  • 蕞高可選購1024M bit x 4 CH scan depth
  • 可選購記憶體測試用ALPG
  • 高達(dá) 16 high-voltage pins
  • 16 個(gè)高性能 DPS 通道
  • 每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
  • 每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
  • Windows® XP操作環(huán)境
  • C++ 程式語言與圖形人機(jī)介面設(shè)計(jì)
  • 采用CRISP完整多樣的系統(tǒng)軟體工具
  • 與周邊設(shè)備相容性高
  • All-in-One小型化氣冷式機(jī)臺設(shè)計(jì),節(jié)省占地面積
  • Cable Mount / Direct Mount

應(yīng)用范圍

  • MCU/MCU + 嵌入式記憶體
  • NAND Flash Controller
  • PC I/O
  • Switch ICs
  • 智慧型電源管理裝置
  • 混合訊號、數(shù)位式、類比式 ICs
  • ADC/DAC/CODEC ICs
  • 各類消費(fèi)性產(chǎn)品IC
  • 適用工程研發(fā)、晶粒測試及 Final Test
  • 電源 IC
  • LED 驅(qū)動 IC

Chroma 3650-CX實(shí)現(xiàn)高性價(jià)比的IC測試系統(tǒng) 
3650-CX采用All-In-One的小型化設(shè)計(jì),除了擁 有相當(dāng)競爭性的機(jī)臺價(jià)格之外,并具備高準(zhǔn)確 性與高生產(chǎn)力。因此,能夠降低客戶的測試成 本與提升IC產(chǎn)品的利潤。3650-CX具備多樣化的 測試能力與強(qiáng)大的軟體工具,能夠用來測試包 含MCU,NAND flash controller, PC周邊相關(guān)的 IC,Switch,LED驅(qū)動IC,以及Power IC和SoC等 產(chǎn)品。

強(qiáng)大且功能完整的3650-CX系統(tǒng)軟體 - CRISP 
架構(gòu)在Windows XP作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650-CX 的軟體測試環(huán)境CRISP ( Chroma Integrated Software Platform),是一個(gè)結(jié)合工程 開發(fā)與量產(chǎn)需求的軟體平臺。主要包含四個(gè)部 份 : 執(zhí)行控制模組、資料分析模組、程式除錯(cuò) 模組以及測試機(jī)臺管理模組。透過親切的圖形 人機(jī)介面的設(shè)計(jì),CRISP提供多樣化的開發(fā)與除 錯(cuò)工具,包含 :Datalog, Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor 與Plan Debugger、Histogram, STDF, Wafer Map等 軟體模組,可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時(shí) 的需求與產(chǎn)線人員量產(chǎn)時(shí)的需求。

All-in-One小型化機(jī)臺設(shè)計(jì)節(jié)省占地面積 
3650-CX將所有的測試儀器模組與機(jī)臺的電源系 統(tǒng)全部整合在單一個(gè)測試頭的空間里,并且采用 氣冷式的設(shè)計(jì)。透過如此高整合度的小型化設(shè) 計(jì),可以大幅減少機(jī)臺的占地面積,以節(jié)省整體 的測試成本。

周邊設(shè)備 
Chroma 3650-CX支援多種裝置的驅(qū)動程式介面 (TTL & GPIB) , 可進(jìn)行與晶圓針測機(jī)和送料機(jī), 包括SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝 置之間的溝通。

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3650-CXSoC 測試系統(tǒng) 
 

致茂Chroma 3650-CX SoC 測試系統(tǒng)

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